美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
Zeta電位測(cè)量方法有哪些？
Zeta電位又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)(ζ-電位或ζ-電勢(shì))，是指剪切面(Shear Plane)的電位，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)。
由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號(hào)離子，這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分，即Stern層和擴(kuò)散層。當(dāng)分散粒子在外電場(chǎng)的作用下，穩(wěn)定層與擴(kuò)散層發(fā)生相對(duì)移動(dòng)時(shí)的滑動(dòng)面即是剪切面，該處對(duì)遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Zeta電位或電動(dòng)電位(ζ-電位)。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差。它可以通過電動(dòng)現(xiàn)象直接測(cè)定。
測(cè)量Zeta電位的方法主要有：
電泳法-當(dāng)電場(chǎng)施加于電解質(zhì)時(shí)，懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極，作用于粒子的粘性力傾向于對(duì)抗這種運(yùn)動(dòng)。當(dāng)這兩種對(duì)抗力達(dá)到平衡時(shí)，粒子以恒定的速度運(yùn)動(dòng)，我們一般稱這個(gè)速度通為電泳遷移率。
電滲法-單位場(chǎng)強(qiáng)下的液體移動(dòng)速度稱為電滲速度。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢(shì)成簡(jiǎn)單的正比關(guān)系，所以可以利用電滲來測(cè)量ξ電勢(shì)，但此法只限于能形成毛細(xì)管或多孔介質(zhì)的材料。
流動(dòng)電位法-流動(dòng)電勢(shì)是指當(dāng)電解質(zhì)溶液在一個(gè)帶電荷的絕緣表面流動(dòng)時(shí)，表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動(dòng)方向運(yùn)動(dòng)，這些帶電荷粒子的運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致下游積累電荷，在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動(dòng)電勢(shì)。
超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓，帶點(diǎn)粒子運(yùn)動(dòng)會(huì)產(chǎn)生聲波，測(cè)量所產(chǎn)生的聲波，就可以計(jì)算顆粒的動(dòng)態(tài)遷移率，后通過計(jì)算得到Zeta電位
美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
典型應(yīng)用：
綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨，煤漿，涂料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)，乳膠，微乳，混合分散體系，納米粉，無(wú)水體系，油漆成像材料。
主要特點(diǎn)：
1)能分析多種分散物的混合體；
2)無(wú)需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點(diǎn)；
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；
5)可精確測(cè)量無(wú)水體系；
6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù)，無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量；
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)，被測(cè)樣品無(wú)需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量；
8)具有自動(dòng)電位滴定功能；
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1)被測(cè)樣品無(wú)需稀釋；
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；
3)不需定標(biāo)；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度；
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
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優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1)無(wú)需定標(biāo)；
2)能測(cè)更寬的粒徑范圍；
3)無(wú)需依賴Double Layer模式
4)無(wú)需依賴( electric surface properties)電表面特牲；
5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑；
6)可適用于無(wú)水體系；
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1)無(wú)需稀釋，固合量高達(dá)60%；
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；
3)高精度(±0.1mv)；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測(cè)量；
6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量；
7)可精確測(cè)量無(wú)水體系；
技術(shù)參數(shù)：
1)所檢測(cè)粒徑范圍寬：從5 nm至1000µm；
2)可測(cè)量參數(shù)：粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減；
3)Zeta電位測(cè)量范圍：+/-500 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m
產(chǎn)品型號(hào)：ZetaAPS
地址：上海市浦東新區(qū)航川路18號(hào)
郵箱：info@yh-tek.com
傳真：021-58220558
當(dāng)前位置：