納米粒度儀對(duì)干粉取樣有哪些要求
更新時(shí)間：2024-08-15 點(diǎn)擊次數(shù)：1099
高分辨率納米粒度儀使用毛細(xì)管流體動(dòng)力分餾（CHDF）技術(shù)按大小分離顆粒。架構(gòu)于光散射儀器、主要提供平均粒徑數(shù)據(jù)—任何平均粒徑都可由無限多的PSD產(chǎn)生。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
毛細(xì)流體動(dòng)力分餾：詳細(xì)PSD數(shù)據(jù)、廣泛多樣PSD準(zhǔn)確報(bào)告。
寬動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)：在主要粒子群中，對(duì)次要粒子群進(jìn)行大動(dòng)態(tài)范圍檢測(cè)。
可靠性高的和簡易操作：質(zhì)量控制/研發(fā)/在線使用。
粒度分布數(shù)據(jù)報(bào)告。
連續(xù)監(jiān)測(cè)/控制所有測(cè)量數(shù)據(jù)：與泵、紫外線檢測(cè)器和自動(dòng)采樣器串聯(lián)。
占地面積小。
納米粒度儀干粉取樣有哪些要求：
1) 從生產(chǎn)線中取樣時(shí)要從料流中截?cái)嗔狭魅印?/div>
2) 從大堆物料中取樣時(shí)要從不同深度、不同部位多點(diǎn)取樣。
3) 從實(shí)驗(yàn)室樣品中取樣是要先混合均勻，多點(diǎn)(至小四點(diǎn))取樣。
高分辨率粒度分布（PSD）測(cè)量 的新的技術(shù)，包括顆粒檢測(cè)高靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍和納米顆粒優(yōu)化分析。
粒子分餾的真實(shí)PSD數(shù)據(jù)。無需對(duì)粒徑分布的形狀進(jìn)行假設(shè)。
精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。
自動(dòng)/無人操作。所有組件都在一個(gè)簡易單一窗口界面控制和操作。
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